國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,安測半導(dǎo)體技術(shù)(義烏)有限公司申請一項(xiàng)名為“一種電源芯片測試方法及裝置”的專利,公開號CN121324898A,申請日期為2025年11月。專利摘要顯示,本發(fā)明屬于芯片測試(晶圓測試)領(lǐng)域,為了解決在電源芯片的測試過程中,通常需要人工連線,由于連線較多,導(dǎo)致作業(yè)效率較低,而且經(jīng)常出現(xiàn)連線錯(cuò)誤的問題,本發(fā)明提供了一種電源芯片測試方法及裝置,該裝置包括:連接單元,所述連接單元包括多個(gè)測試針,所述測試針與待測晶圓連接;探針單元,所述探針單元包括多個(gè)探針,通過探針與連接單元連接;測試電路單元,所述測試電路單元與探針單元的探針連接,用于發(fā)出測試信號;處理單元,用于根據(jù)所述測試電路單元發(fā)出的信號,對待測晶圓進(jìn)行電壓測試。本發(fā)明中連接單元直接通過探針單元與測試電路單元連接,不再需要